行业领先的12位ADC满足未来测试 测量以及国防应用的严苛要求

行业领先的12位ADC满足未来测试 测量以及国防应用的严苛要求

　德州仪器(TI)于今日推出一款新型超高速模数转换器(ADC)，具有业界较宽的带宽、领先的采样率和低功耗。ADC12DJ5200RF可以帮助工程师实现5G测试应用和示波器的高精度测量，以及雷达应用的直接x波段采样。有关更多信息，敬请访问www.ti.com/ADC12DJ5200RF-pr。

　TI将于2019年6月4日至6日在波士顿举行的国际微波研讨会(IMS)上的1272号展位上展示ADC12DJ5200RF。

　　在更宽的频谱范围内实现最快测量

　　· 更宽频宽：在8 GHz频率下，
ADC12DJ5200RF可以让工程师实现高达20%的模拟输入带宽，并且能够直接将非常高的频率数字化，而无需额外的功耗、成本和下变频尺寸。

　　· 更快的12位ADC：在双通道模式下，ADC12DJ5200RF采样速率为5.2 gigasamples /
s(GSPS)，并以12位分辨率捕获高达2.6 GHz的瞬时带宽(IBW)。在单通道模式下，新的超高速ADC采样速率为10.4 GSPS，可捕获高达5.2
GHz的IBW。

　　· 高效接口：作为第一款支持JESD204C标准接口的独立GSPS
ADC，ADC12DJ5200RF有助于最大限度地减少向现场可编程门阵列(FPGA)输出数据所需的串行器/解串器通道数量，从而让设计人员能够实现更高的数据速率。

　　在电源和温度变化范围内具有高性能和稳定性的设计

　　·
高信号检测灵敏度：ADC12DJ5200RF在电源变化范围内具有最高的动态性能，即使在最低规格下也是如此，通过提供超高灵敏度的接收器，可以检测到是最小和最弱的信号，从而提高信号智能。此外，该器件还包括内部高频振动，可提高无杂波干扰性能。

　　· 高测量精度：TI的新型超高速ADC极大地降低了系统误差，偏移误差低至±300 μV，以及零点温度漂移。

　　· 更低的CER：设计测试和测量设备的工程师可以充分利用ADC12DJ5200RF的极低误码率(CER)实现高测量可重复性。

　　将解决方案尺寸减小30%，功耗降低20%

　　· 更小的占用面积：ADC12DJ5200RF的尺寸为10 mm×10
mm，比离散的解决方案小30%，可帮助工程师节省电路板空间。这种新型超高速ADC还能够减少通道数量，有助于采用更小的印刷电路板设计。

　　· 降低功耗：ADC12DJ5200RF 4-W的低能耗可以帮助工程师最大限度地降低散热并简化设计中的整体热管理，比同类ADC产品低20%。

　　加快设计的工具和支持

　　· 使用AFE7444EVM和AFE7422EVM 评估模块测试新的超高速ADC，现在即可从TI商店和授权经销商处获取。

　　· 阅读"用于时钟和电源优化的多芯片同步参考设计"，工程师可以使用ADC12DJ5200RF快速启动设计。

　　了解更多信息

　　· 下载ADC12DJ5200RF数据表。

　　· 请阅读此技术文章，了解更多关于S参数的信息。

　　· 在TI E2E?数据转换器支持论坛中查找专家解答。

　　· 查看所有TI数据转换器设备。

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